Patentometria

Indicadores tecnológicos, classificação IPC/CPC, redes, citações, famílias e mapeamento tecnológico.

Eixo central

6 h na unidade

Anatomia do documento de patente

Campos-chave: códigos de classificação CPC/IPC, citações para frente e para trás, família de patentes, depositantes, inventores, jurisdições e datas de prioridade.

Indicadores de atividade

Evolução temporal dos depósitos, principais depositantes (empresas e universidades), países líderes e inventores-chave — termômetro do dinamismo tecnológico.

Indicadores de impacto e qualidade

Análise de citações (forward/backward), tamanho de família e número de jurisdições de proteção como proxies de relevância e valor estratégico.

Indicadores de colaboração

Mapas de coautoria e codesenvolvimento; análise de redes sociais (SNA) aplicadas a inventores e instituições para detectar polos e parcerias estratégicas.

Mapeamento tecnológico (IPC/CPC)

Análise das classificações para identificar rotas tecnológicas dominantes, subtemas emergentes e adensamentos/lacunas — visualizadas como mapas de calor e contorno.

Análise de conteúdo e text mining

Extração e clusterização de termos de títulos, resumos e reivindicações para mapear subtemas, tecnologias emergentes e palavras-chave estratégicas (Joung & Kim, 2017).

Patent landscape

Relatório integrado que combina indicadores quantitativos, mapas e análise qualitativa de uma área tecnológica — diretrizes WIPO para preparação.

Indicadores patentométricos deste módulo (65)

Métricas do catálogo do automatizador trabalhadas neste módulo. Cada link abre o verbete com fórmula, variáveis, unidade de análise e referências.